Electron Microscopy: SEM/TEM

16 páginas, figuras, tablas

Detalles Bibliográficos
Autores: Nieto, F., Jiménez-Millán, Juan, Gambogi Parreira, Gleydes, Chiarini García, H., Melo, R. C. N.
Tipo de recurso: otro
Fecha de publicación:2010
País:España
Institución:Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Repositorio:DIGITAL.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC
OAI Identifier:oai:digital.csic.es:10261/32528
Acceso en línea:http://hdl.handle.net/10261/32528
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:Electron microscopy
SEM
TEM
Descripción
Sumario:16 páginas, figuras, tablas