Crecimiento epitaxial de yeso sobre anhidrita: Estudio in situ mediante microscopía de fuerza atómica (AFM)
| Autores: | , , |
|---|---|
| Tipo de recurso: | artículo |
| Fecha de publicación: | 2000 |
| País: | España |
| Institución: | Universidad Complutense de Madrid (UCM) |
| Repositorio: | Docta Complutense |
| Idioma: | español |
| OAI Identifier: | oai:docta.ucm.es:20.500.14352/59857 |
| Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/20.500.14352/59857 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | 549.76 Microscopía de fuerza atómica Yeso Microscopía electrónica de barrido Gypsum Mineralogía (Geología) 2506.11 Mineralogía |
| Descripción no disponible. |