Plataforma de co-emulação de falhas em circuitos integrados.
Este trabalho apresenta uma plataforma e uma técnica para o melhoramento da eficiência da graduação de falhas stuck-at de padrões de teste através do uso de co-emulação de hardware. Os fabricantes de Circuitos Integrados continuamente buscam novas formas de testar seus dispositivos com o intuito de...
| Autor: | |
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| Formato: | tesis doctoral |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 2011 |
| País: | Brasil |
| Recursos: | Universidade de São Paulo (USP) |
| Repositorio: | Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP |
| Idioma: | portugués |
| OAI Identifier: | oai:teses.usp.br:tde-22032012-175408 |
| Acesso em linha: | http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3142/tde-22032012-175408/ |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palavra-chave: | CAD Circuitos integrados Co-emulação de falhas Fault co-emulation Fault simulation FPGA Integrated circuits Simulação de falhas Testabilidade Testability |
| Resumo: | Este trabalho apresenta uma plataforma e uma técnica para o melhoramento da eficiência da graduação de falhas stuck-at de padrões de teste através do uso de co-emulação de hardware. Os fabricantes de Circuitos Integrados continuamente buscam novas formas de testar seus dispositivos com o intuito de distribuir peças sem defeitos aos seus clientes. Scan é uma técnica bem conhecida que consegue alta cobertura de falhas com eficiência. As demandas por novos recursos motivam a criação de sistemas complexos que fazem uso de uma mistura de blocos analógicos e digitais com uma interface de comunicação, difícil de ser coberta pelos padrões de scan. Adicionalmente, a lógica que configura o chip para cada um dos diferentes modos de operação, algumas interfaces com circuitos de teste de memória (BIST), divisores ou geradores de clocks assíncronos, entre outros, são exemplos de circuitos que se encontram bloqueados em scan ou possuem poucos pontos de observação/controle. Este trabalho descreve uma plataforma baseada em FPGA que usa modelos heterogêneos para co-emular blocos digitais, analógicos e de memória para a graduação de padrões em sistemas complexos. Adicionalmente introduziu-se quatro tipos de modelos que podem ser usados no FPGA, e os resultados de aplicar a técnica de co-emulação de falhas em alguns circuitos de benchmark incluindo ISCAS89, um conversor análogo digital, portas configuráveis de entrada/saída e um controlador de memória. |
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