Skew binary regression with measurement errors

Detalles Bibliográficos
Autor: Lachos Dávila, Victor Hugo
Tipo de recurso: artículo
Estado:Versión publicada
Fecha de publicación:2006
País:Brasil
Institución:Universidade de São Paulo (USP)
Repositorio:Repositório Institucional da USP (Biblioteca Digital da Produção Intelectual)
Idioma:inglés
OAI Identifier:001565304
Acceso en línea:https://doi.org/10.1080/02331880600589270
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:INFERÊNCIA BAYESIANA
Descripción
Descripción no disponible.