Novo método para medida da permitividade complexa em ultra-baixas frequências

No presente trabalho descreve-se: a determinação da permitividade dielétrica complexa através de medidas de fase; a aplicação de técnicas de correlação e análise em séries de Fourier, para a determinação da fase, amplitude, qualidade e deformação do sinal atrasado; os circuitos eletrônicos do medido...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autor: Slaets, Jan Frans Willem
Tipo de recurso: tesis doctoral
Estado:Versión publicada
Fecha de publicación:1979
País:Brasil
Institución:Universidade de São Paulo (USP)
Repositorio:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP
Idioma:portugués
OAI Identifier:oai:teses.usp.br:tde-18082014-171054
Acceso en línea:http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54132/tde-18082014-171054/
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:Constante dielétrica
Dielectric constant
Electronic instrumentation
Instrumentação eletrônica
Ultra-baixa frequencia
Ultra-low frequency
Descripción
Sumario:No presente trabalho descreve-se: a determinação da permitividade dielétrica complexa através de medidas de fase; a aplicação de técnicas de correlação e análise em séries de Fourier, para a determinação da fase, amplitude, qualidade e deformação do sinal atrasado; os circuitos eletrônicos do medidor de fase e do oscilador de U.B.F. programável; a programação desenvolvida em FORTRAN IV e MACRO-ASSEMBLER para o computador PDP 11/45, utilizado para operar o medidor de fase e o oscilador de U.B.F.