Back gate bias influence on BESOI ISFET sensitivity
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| Tipo de recurso: | artículo |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 2023 |
| País: | Brasil |
| Institución: | Universidade de São Paulo (USP) |
| Repositorio: | Repositório Institucional da USP (Biblioteca Digital da Produção Intelectual) |
| Idioma: | inglés |
| OAI Identifier: | 003156789 |
| Acceso en línea: | https://doi.org/10.1149/11101.0279ecst |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | METALOGRAFIA |
| Descripción no disponible. |