The impact of the temperature on In0.53Ga0.47As nTFETs

Detalles Bibliográficos
Autor: Lin, D
Tipo de recurso: artículo
Estado:Versión publicada
Fecha de publicación:2018
País:Brasil
Institución:Universidade de São Paulo (USP)
Repositorio:Repositório Institucional da USP (Biblioteca Digital da Produção Intelectual)
Idioma:inglés
OAI Identifier:002902521
Acceso en línea:https://doi.org/10.21494/iste.op.2018.0224
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:SEMICONDUTORES
Descripción
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