Um método de síntese da via de dados para circuitos integrados de aplicação específica auto-testáveis.
Alocação é uma tarefa da síntese de alto nível com a qual se obtém a definição do caminho de dados obedecendo restrições de hardware e otimizando a área e o desempenho do ASIC resultante. Testabilidade é uma seqüência de procedimentos que assegura que o ASIC está funcionando corretamente. Auto-testa...
| Autor: | |
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| Formato: | tesis de maestría |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 2000 |
| País: | Brasil |
| Recursos: | Universidade de São Paulo (USP) |
| Repositorio: | Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP |
| Idioma: | portugués |
| OAI Identifier: | oai:teses.usp.br:tde-07112024-114505 |
| Acesso em linha: | https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3140/tde-07112024-114505/ |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palavra-chave: | CAD Circuitos integrados digitais Digital integrated circuits Síntese de circuitos digitais Synthesis of digital circuits |
| Resumo: | Alocação é uma tarefa da síntese de alto nível com a qual se obtém a definição do caminho de dados obedecendo restrições de hardware e otimizando a área e o desempenho do ASIC resultante. Testabilidade é uma seqüência de procedimentos que assegura que o ASIC está funcionando corretamente. Auto-testabilidade é o caso onde todo o procedimento de teste é implementado no próprio chip. Um projeto é dito completamente testável quando, em modo teste, todas as falhas possíveis são detectáveis. Esta dissertação apresenta um método para se considerar a testabilidade do ASIC durante o processo de alocação. Durante o processo de alocação, algumas restrições a mais que as habitualmente usadas, garantem esta auto-testabilidade. Usualmente, este tipo de problema de otimização é NP-Completo. No nosso caso, algumas heurísticas são usadas para se alcançar uma boa solução num tempo de computação aceitável. Esta dissertação apresenta as heurísticas de nosso algoritmo de alocação e um estudo de caso que valida o processo inteiro. |
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