Tecnicas de microscopia de tunelamento de eletrons (MTE) e microscopia de força atomica (MFA) aplicadas ao estudo desuperficies de grafite e diamante
Orientador: Vitor Baranauskas
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| Tipo de recurso: | tesis de maestría |
| Estado: | Versión publicada |
| Fecha de publicación: | 1992 |
| País: | Brasil |
| Institución: | Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP) |
| Repositorio: | Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP) |
| Idioma: | portugués |
| OAI Identifier: | oai::78880 |
| Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/20.500.12733/1581665 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | Microscopia eletrônica Microscópio e microscopia |
| Sumario: | Orientador: Vitor Baranauskas |
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