Misión satelital Aquarius/SAC-D: análisis estadístico de las celdas del modelo de vuelo de los paneles solares

En el marco de un contrato de asistencia tecnológica entre la Comisión Nacional de Energía Atómica (CNEA) y la Comisión Nacional de Actividades Espaciales (CONAE), el Grupo  Energía Solar (GES), junto con otros profesionales y técnicos del Centro Atómico  Constituyentes, desarrolló los paneles solar...

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Detalles Bibliográficos
Autores: Godfrin, Elena María, Pla, Juan Carlos, Durán, J. C.
Tipo de recurso: artículo
Estado:Versión publicada
Fecha de publicación:2010
País:Argentina
Institución:Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
Repositorio:CONICET Digital (CONICET)
Idioma:español
OAI Identifier:oai:ri.conicet.gov.ar:11336/190957
Acceso en línea:http://hdl.handle.net/11336/190957
Access Level:acceso abierto
Palabra clave:CONVERSIÓN FOTOVOLTAICA
PANELES SOLARES
APLICACIONES ESPACIALES
MISIONES SATELITALES
CELDAS SOLARES
https://purl.org/becyt/ford/2.11
https://purl.org/becyt/ford/2
Descripción
Sumario:En el marco de un contrato de asistencia tecnológica entre la Comisión Nacional de Energía Atómica (CNEA) y la Comisión Nacional de Actividades Espaciales (CONAE), el Grupo  Energía Solar (GES), junto con otros profesionales y técnicos del Centro Atómico  Constituyentes, desarrolló los paneles solares para la misión satelital Aquarius/SAC-D. La fabricación del modelo de vuelo de dichos paneles requirió la integración y caracterización  eléctrica, bajo condiciones normalizadas, de aproximadamente 3000 celdas solares con diodos  de paso, interconectores y cubiertas de vidrio. En el presente trabajo se presenta un análisis  estadístico de los parámetros eléctricos de las celdas solares, antes y después de su ensamble, comparándose además las mediciones realizadas en la CNEA con los datos provistos por el  fabricante de las celdas. Se analizó especialmente el factor de llenado (“Fill Factor”, FF) de la  curva corriente-tensión, ya que se considera un parámetro apropiado para evaluar posibles  degradaciones de los dispositivos durante el proceso de integración. El análisis realizado  demostró ser una herramienta de suma utilidad para el monitoreo del proceso de ensamble y  también para evaluar la confiabilidad y la incerteza del proceso de medición utilizado.