Estudio del efecto de los aniones cloruros, sulfatos y sus mezclas en la Electrodeposición de cinc en medio ácido
El objetivo de este capítulo es analizar la electrodeposición de cinc a partir de soluciones mezcla de cloruros y sulfatos en distintas proporciones, tanto en presencia como en ausencia de un aditivo. Esto permite analizar la influencia de estos aniones en dicho proceso. Se trabaja sobre mezclas [x...
| Autores: | , , |
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| Tipo de documento: | relatório científico |
| Estado: | Versión enviada para evaluación y publicación |
| Data de publicação: | 2017 |
| País: | Argentina |
| Recursos: | Universidad Nacional de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales |
| Repositório: | Biblioteca Digital (UBA-FCEN) |
| Idioma: | espanhol |
| OAI Identifier: | technicalreport:technicalreport_n00028 |
| Acesso em linha: | http://hdl.handle.net/20.500.12110/technicalreport_n00028 |
| Access Level: | Acceso aberto |
| Palavra-chave: | Electrodeposición de zinc Solución Mezcla de cloruros SEM-XP |
| Resumo: | El objetivo de este capítulo es analizar la electrodeposición de cinc a partir de soluciones mezcla de cloruros y sulfatos en distintas proporciones, tanto en presencia como en ausencia de un aditivo. Esto permite analizar la influencia de estos aniones en dicho proceso. Se trabaja sobre mezclas [x M Cl- + y M SO42- + 0.3M Zn2+ + (x + 2 y –0.6) M NH4+] a fuerza iónica constante, desde el extremo de NH4Cl/ZnCl2 hasta el extremo (NH4)2SO4 /ZnSO4. Las soluciones de mezclas: (NH4Cl 1.6 M + ZnCl2 0,3M) y de (NH4)2SO4 1,3M + ZnSO4 0,3M) se prepararon a fuerza iónica I=2,5 M y pH=4 ajustado, con soluciones de sulfato de amonio diluido. Por otra parte, se analizan las posibles reacciones de superficie que ocurren durante la deposición de cinc a partir de la mezcla de soluciones de cloruro de cinc más cloruro de amonio y de sulfato de cinc más sulfato de amonio, mediante voltametría catódica, la técnica de deposición disolución para medir la eficiencia de la reacción, el análisis por Microscopio Electrónico de Barrido, SEM, la técnica de XPS “X ray Photoelectron Spectroscopy”, que permite reconocer elementos y su entorno en pocas monocapas en una profundidad de 20 -30 Å. |
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