Caracterización óptica de películas delgadas mediante interferometría holográfica
Fil: Balducci, Diego Mario Nicolás. Universidad Nacional del Litoral. Facultad de Ingeniería Química; Argentina.
| Autor: | |
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| Tipo de recurso: | tesis de maestría |
| Estado: | Versión aceptada para publicación |
| Fecha de publicación: | 2021 |
| País: | Argentina |
| Institución: | Universidad Nacional del Litoral |
| Repositorio: | Biblioteca Virtual (UNL) |
| Idioma: | español |
| OAI Identifier: | oai:bibliotecavirtual.unl.edu.ar/handle:11185/5798 |
| Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/11185/5798 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | Silicio cristalino Digital holographic microscopy Thin film coating Crystalline silicon Microscopía holográfica digital Recubrimiento de película delgada |
| Sumario: | Fil: Balducci, Diego Mario Nicolás. Universidad Nacional del Litoral. Facultad de Ingeniería Química; Argentina. |
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