Aplicación de capas antirreflectantes en celdas solares de silicio cristalino
Una forma de incrementar la eficiencia de las celdas solares de silicio monocristalino es disminuyendo la reflectividad en la cara frontal del dispositivo, maximizando de este modo la energía absorbida. Con este fin pueden aplicarse técnicas antirreflectantes (AR), como el depósito de películas diel...
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| Tipo de documento: | artigo |
| Estado: | Versão publicada |
| Data de publicação: | 2009 |
| País: | Argentina |
| Recursos: | Universidad Nacional de La Plata |
| Repositório: | SEDICI (UNLP) |
| Idioma: | espanhol |
| OAI Identifier: | oai:sedici.unlp.edu.ar:10915/97216 |
| Acesso em linha: | http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/97216 |
| Access Level: | Acceso aberto |
| Palavra-chave: | Ingeniería Ciencias Exactas Energía solar Energía Fotovoltaica Celdas Solares silicio cristalino capa antirreflectante elaboración caracterización |
| Resumo: | Una forma de incrementar la eficiencia de las celdas solares de silicio monocristalino es disminuyendo la reflectividad en la cara frontal del dispositivo, maximizando de este modo la energía absorbida. Con este fin pueden aplicarse técnicas antirreflectantes (AR), como el depósito de películas dieléctricas de índice y espesores optimizados, siendo ejemplo de ellas el ZnS, el TiO<sub>2</sub> y el Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>. En este trabajo se muestran los resultados de la optimización numérica de las estructuras Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>-SiO<sub>2</sub>-Si y MgF<sub>2</sub>-vidrio-ZnS-SiO<sub>2</sub>-Si. Asimismo, se elaboraron y se caracterizaron ópticamente muestras, con las capas dieléctricas mencionadas previamente, a partir de la medición de la reflectividad espectral. Se propusieron métodos de elaboración para las capas AR sobre celdas solares compatibles con el método de elaboración de dispositivos convencionales. Finalmente, los dispositivos fueron caracterizados eléctricamente midiendo la característica I-V y electrónicamente mediante la medición de la eficiencia cuántica. |
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