CISNEROS, M. T., CABRERA, R. G., CORTES, L. A. A., MENDEZ, E. A., & Lucio, J. A. A. (2012). Shallow Levels Characterization in Epitaxial GaAs by Acousto-Optic Reflectance.
Citação norma ChicagoCISNEROS, MIGUEL TORRES, RAFAEL GUZMAN CABRERA, LUZ ANTONIO AGUILERA CORTES, EDGAR ALVARADO MENDEZ, y José Amparo Andrade Lucio. Shallow Levels Characterization in Epitaxial GaAs By Acousto-Optic Reflectance. 2012.
Citação norma MLACISNEROS, MIGUEL TORRES, et al. Shallow Levels Characterization in Epitaxial GaAs By Acousto-Optic Reflectance. 2012.
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