Galeazzi Isasmendi, R. G. (2002). Caracterizacion por microscopia electronica de barrido de heteroestructuras de GaAs-Ge/GaAs de baja dimensionalidad.
Citación estilo ChicagoGaleazzi Isasmendi, Reina Galeazzi. Caracterizacion Por Microscopia Electronica De Barrido De Heteroestructuras De GaAs-Ge/GaAs De Baja Dimensionalidad. 2002.
Cita MLAGaleazzi Isasmendi, Reina Galeazzi. Caracterizacion Por Microscopia Electronica De Barrido De Heteroestructuras De GaAs-Ge/GaAs De Baja Dimensionalidad. 2002.
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