Vazquez Curiel, E. (2000). Efectos de la relajacion de la superficie en las propiedades electronicas del silicio poroso.
Citación estilo ChicagoVazquez Curiel, Evangelina. Efectos De La Relajacion De La Superficie En Las Propiedades Electronicas Del Silicio Poroso. 2000.
Cita MLAVazquez Curiel, Evangelina. Efectos De La Relajacion De La Superficie En Las Propiedades Electronicas Del Silicio Poroso. 2000.
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