Torres-Cisneros, M., Ostrovskii, I., Burlak, G. N., Koshevaya, S. V., Guzmán-Cabrera, R., Aguilera-Cortés, L. A., . . . Ibarra-Manzano, O. G. (2005). Shallow Levels Characterization in Epitaxial GaAs by Acousto-Optic Reflectance.
Citación estilo ChicagoTorres-Cisneros, M., et al. Shallow Levels Characterization in Epitaxial GaAs By Acousto-Optic Reflectance. 2005.
Cita MLATorres-Cisneros, M., et al. Shallow Levels Characterization in Epitaxial GaAs By Acousto-Optic Reflectance. 2005.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.