Cita APA

L., K., Newman, N., Youtie, J., A.L., P., & Rafols García, I. (2014). Patent Overlay Mapping: Visualizing Technological Distance.

Citación estilo Chicago

L., Kay, N. Newman, J. Youtie, Porter A.L., y Ismael Rafols García. Patent Overlay Mapping: Visualizing Technological Distance. 2014.

Cita MLA

L., Kay, et al. Patent Overlay Mapping: Visualizing Technological Distance. 2014.