Seoane Iglesias, N., Indalecio Fernández, G., Aldegunde, M., Nagy, D., Elmessary, M. A., García Loureiro, A. J., & Kalna, K. (2016). Comparison of Fin-Edge Roughness and Metal Grain Work Function Variability in InGaAs and Si FinFETs.
Citación estilo ChicagoSeoane Iglesias, Natalia, Guillermo Indalecio Fernández, M. Aldegunde, Daniel Nagy, M. A. Elmessary, Antonio Jesús García Loureiro, y K. Kalna. Comparison of Fin-Edge Roughness and Metal Grain Work Function Variability in InGaAs and Si FinFETs. 2016.
Cita MLASeoane Iglesias, Natalia, et al. Comparison of Fin-Edge Roughness and Metal Grain Work Function Variability in InGaAs and Si FinFETs. 2016.
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