Martil De La Plaza, I., González Díaz, G., & Prado Millán, Á. D. (2009). Effect of interlayer trapping and detrapping on the determination of interface state densities on high-k dielectric stacks.
Citación estilo ChicagoMartil De La Plaza, Ignacio, Germán González Díaz, y Álvaro Del Prado Millán. Effect of Interlayer Trapping and Detrapping On the Determination of Interface State Densities On High-k Dielectric Stacks. 2009.
Cita MLAMartil De La Plaza, Ignacio, Germán González Díaz, y Álvaro Del Prado Millán. Effect of Interlayer Trapping and Detrapping On the Determination of Interface State Densities On High-k Dielectric Stacks. 2009.
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