Erbas, B., Conde Rubio, A., Liu, X., Pernollet, J., Wang, Z., Bertsch, A., . . . Brugger, J. (2024). Combining thermal scanning probe lithography and dry etching for grayscale nanopattern amplification.
Citação norma ChicagoErbas, Berke, et al. Combining Thermal Scanning Probe Lithography and Dry Etching for Grayscale Nanopattern Amplification. 2024.
Citação norma MLAErbas, Berke, et al. Combining Thermal Scanning Probe Lithography and Dry Etching for Grayscale Nanopattern Amplification. 2024.
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