López Fernández, F. (1993). Espectrometría de masas de iones secundarios: Aportaciones a la técnica y caracterización de capas finas de a-C:H y de a-Si:H.
Citación estilo ChicagoLópez Fernández, Francisco. Espectrometría De Masas De Iones Secundarios: Aportaciones a La Técnica Y Caracterización De Capas Finas De A-C:H Y De A-Si:H. 1993.
Cita MLALópez Fernández, Francisco. Espectrometría De Masas De Iones Secundarios: Aportaciones a La Técnica Y Caracterización De Capas Finas De A-C:H Y De A-Si:H. 1993.
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