Citação norma APA

Fiorelli, R., & Peralías, E. (2015). Semi-empirical RF MOST model for CMOS 65 nm technologies: Theory, extraction method and validation.

Citação norma Chicago

Fiorelli, Rafaella, y E. Peralías. Semi-empirical RF MOST Model for CMOS 65 Nm Technologies: Theory, Extraction Method and Validation. 2015.

Citação norma MLA

Fiorelli, Rafaella, y E. Peralías. Semi-empirical RF MOST Model for CMOS 65 Nm Technologies: Theory, Extraction Method and Validation. 2015.

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