Fiorelli, R., & Peralías, E. (2015). Semi-empirical RF MOST model for CMOS 65 nm technologies: Theory, extraction method and validation.
Citação norma ChicagoFiorelli, Rafaella, y E. Peralías. Semi-empirical RF MOST Model for CMOS 65 Nm Technologies: Theory, Extraction Method and Validation. 2015.
Citação norma MLAFiorelli, Rafaella, y E. Peralías. Semi-empirical RF MOST Model for CMOS 65 Nm Technologies: Theory, Extraction Method and Validation. 2015.
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