Álvarez Herrero, A. (2004). Caracterización elipsométrica de materiales dieléctricos de aplicación en el desarrollo de sensores evanescentes de fibra óptica para el sector aeroespacial.
Citação norma ChicagoÁlvarez Herrero, Alberto. Caracterización Elipsométrica De Materiales Dieléctricos De Aplicación En El Desarrollo De Sensores Evanescentes De Fibra óptica Para El Sector Aeroespacial. 2004.
Citação norma MLAÁlvarez Herrero, Alberto. Caracterización Elipsométrica De Materiales Dieléctricos De Aplicación En El Desarrollo De Sensores Evanescentes De Fibra óptica Para El Sector Aeroespacial. 2004.
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