Cita APA

Martil De La Plaza, I., González Díaz, G., Prado Millán, Á. D., & San Andrés Serrano, E. (2004). Compositional analysis of thin SiOxNy: H films by heavy-ion ERDA, standard RBS, EDX and AES: a comparison.

Citación estilo Chicago

Martil De La Plaza, Ignacio, Germán González Díaz, Álvaro Del Prado Millán, y Enrique San Andrés Serrano. Compositional Analysis of Thin SiOxNy: H Films By Heavy-ion ERDA, Standard RBS, EDX and AES: A Comparison. 2004.

Cita MLA

Martil De La Plaza, Ignacio, Germán González Díaz, Álvaro Del Prado Millán, y Enrique San Andrés Serrano. Compositional Analysis of Thin SiOxNy: H Films By Heavy-ion ERDA, Standard RBS, EDX and AES: A Comparison. 2004.