Díaz-Guerra Viejo, C. (2003). Estudio de propiedades de recombinación electrónica en superconductores de alta temperatura crítica mediante técnicas de microscopía electrónica de barrido y microscopía túnel.
Citación estilo ChicagoDíaz-Guerra Viejo, Carlos. Estudio De Propiedades De Recombinación Electrónica En Superconductores De Alta Temperatura Crítica Mediante Técnicas De Microscopía Electrónica De Barrido Y Microscopía Túnel. 2003.
Cita MLADíaz-Guerra Viejo, Carlos. Estudio De Propiedades De Recombinación Electrónica En Superconductores De Alta Temperatura Crítica Mediante Técnicas De Microscopía Electrónica De Barrido Y Microscopía Túnel. 2003.
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