Comparative measurement of in plane strain by shearography and electronic speckle pattern interferometry

FONDECYT

Detalhes bibliográficos
Autores: Martinez, A., Rayas, J. A., Cordero, R., Labbe, F.
Formato: artículo
Estado:Versión publicada
Fecha de publicación:2011
País:Chile
Idioma:inglés
OAI Identifier:oai:repositorio.anid.cl:10533/143576
Acesso em linha:https://hdl.handle.net/10533/143576
Access Level:acceso abierto
Descrição
Resumo:FONDECYT